超音波自動探傷による微小きずの検出技術

KK-0055

1.超音波自動探傷による微小きず検出の原理

微少な内部欠陥や表面欠陥(100μ程度)を検出し、その大きさ、形状、位置を平面図および断面図として出力します。

水槽中にセットした試験片に、細く絞った高周波の超音波ビーム(最大100MHz)をX、Y軸方向にスキャン(最小10μm)させて、試験片内部及び表面の微小きず(100μm前後)を検出し、測定結果を平面図(平面的な分布図)及び断面図(深さ位置図)でカラー映像化します。

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内部きず検査法(垂直探傷法) 表面きず検査法(斜角探傷法)

2.調査例

左:セラミックスの内部きず 中央:セラミックスの表面きず 右:ICの内部の検査

3.応用例

鉄鋼製品の微小介在物、微小クラック検出、セラミックスの微小きず検出
電子部品の検査、鋳物等の巣の検査、その他各種金属、非金属材料の微小表面きずの検出

4.PDFダウンロード

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