AEC規格試験(車載用信頼性試験)
AMM-2001
1.概要
自動車エレクトロニクス協議会(AEC)は、大手自動車メーカと米国の大手電子部品メーカが集まって作られた車載用電子部品信頼性の規格化のための団体です。 このAEC規格は、車載用信頼性の世界基準の規格であり、欧米では車載向け電子部品の規格として広く採用されています。
弊社では、車載用電子部品規格に対応した規格試験、各種信頼性試験を承っております。試験用治具の対応も可能です。
2.規格の種類
| AEC-Q100 | 集積回路(IC) |
|---|---|
| AEC-Q101 | ディスクリート半導体(コンデンサ、トランジスタ、ダイオードなど) |
| AEC-Q102 | ディスクリートオプトエレクトロニクス半導体(LED、フォトカプラなど) |
| AEC-Q104 | マルチチップモジュール(MCM:複数のベアチップやICなどを搭載したもの) |
| AEC-Q200 | 受動部品(抵抗、キャパシタ、インダクタなど) |
3.試験条件
| 試験項目 | 試験工程が決められており、規定のフローに従い、下記項目を実施する |
|---|---|
| 要求温度 | AEC-Q100 Rev.Hでは、使用される場所によって違います。 グレード0 : -40°C ～ +150°C グレード1 : -40°C ～ ∔125°C グレード2 : -40°C ～ ∔105°C グレード3 : -40°C ～ ∔85°C |
| 試験試料数 | 77個×3lot=231個(判定:NG=0)が主である。 |
4.主な試験項目
| グループA | 環境試験 |
|---|---|
| PC | 前処理 |
| THB HAST |
高温高湿バイアス試験 超加速寿命試験 |
| AC UHST |
オートクレーブ バイアス無超加速寿命試験 |
| TC | 温度サイクル試験 |
| PTC | パワー温度サイクル試験 |
| HTSL | 高温保管試験 |
| グループB | 加速試験 |
|---|---|
| HTOL | 高温動作寿命 |
| ELFR | 初期不良 |
| EDR | 繰返書換試験、データ保持試験 |
| グループC | ASSY信頼性試験 |
|---|---|
| WBS | ワイヤボンドシェア強度 |
| WBP | ワイヤボンドプル強度 |
| SD | はんだぬれ性 |
| PD | デバイス外観(図面寸法) |
| SBS | はんだボンドシェア強度 |
| LI | 端子強度 |
| グループD | ダイレベル試験 |
|---|---|
| EM | エレクトロマイグレーション |
| TDDB | 経時的酸化膜寿命 |
| HCI | ホットキャリア注入試験 |
| NBTI | 負バイアス温度不安定性 |
| SM | ストレスマイグレーション |
| グループE | 電気的試験 |
|---|---|
| TEST | 機能試験 |
| HBM | 人体モデル |
| CDM | デバイス帯電モデル |
| LU | ラッチアップ |
| ED | 特性選別 |
| グループG | 中空パッケージ試験 |
|---|---|
| MS | 衝撃試験 |
| VFV | 振動試験 |
| CA | 定加速度試験 |
| GFL | グロスリーク、ファインリーク |
| DROP | 落下試験 |
| DS | ダイシェアテスト |
| IWV | 内部水蒸気の含有率試験 |
