微小部X線応力測定装置

AMM-1704

1.微小部X線応力測定装置の特徴

微小部X線応力測定装置は,X線回折装置(XRD)の一種で,製品や試験片の残留応力を非破壊的に測定する装置です。
測定領域(照射面積)は,コリメーター(下記)で調整できます。測定深さは,材料等にもよりますが,表面から10μm程度までです。
なお,微小部での分析のため,測定対象の広い範囲に渡る残留応力分布が必要な場合は,複数回の測定が必要です。

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2.装置仕様;PSPC-RSF (リガク製)

X線管球 Cr,Fe,Co,Cu
出力 最大2kW
測定方法 sin2ψ法(走査法 並傾法,側傾法)
コリメーター Φ4,Φ2,Φ1,Φ0.5,Φ0.3,Φ0.15(mm)
測角範囲 2θ=100° ~ 165°
PSPC‐RSF(メーカーのカタログより)
PSPC‐RSF(メーカーのカタログより)

3.試料情報

鉄鋼製品など等方性多結晶材料の清浄な平滑面

Φ320mm × 135mm,4kgまで(常用)
(Φ320mm × 300mm,20kgまで(試料ステージを取外した場合))

4.測定事例

線材の円周方向のX線残留応力測定では,照射面積が線径の 1/10 以下であれば殆ど無視することができますので,Φ1mm程度の細さまでなら測定できると考えられます(参考文献:大阪府立産業技術総合研究所 Technical Sheet No.99047)。

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