Cs-TEMによる高分解能構造解析事例(触媒分野)を公開しました.

※概要
球面収差補正-透過型電子顕微鏡(Corrector-Spherical Aberration-Transmission Electron Microscopy, Cs-TEM)は、対物レンズおよびコンデンサーレンズの球面収差補正を行うことで、より高分解能なSTEM像とHAADF像の撮影と、高強度極微細プローブによる原子列からの元素分析が可能な装置です。従来のSTEMマッピングでは得られなかった原子レベルの高分解能観察、元素存在位置情報による評価が可能です。本コンテンツでは高分解能評価の特徴を活かし、自動車用排ガス処理触媒から触媒粉体を採取してCs-STEMを用いた評価事例をご紹介します。