X線回折法を用いた転位密度、結晶子サイズ解析のコンテンツを新規公開しました。

2024.09.25技術情報

X線回折法(X-ray diffraction: XRD)で得られる回折ピークの形状を解析して、材料の転位密度や結晶子サイズなどを非破壊で解析する技術(XRDラインプロファイル解析)をご紹介します。

 

詳しくはこちらからご覧ください。

X線回折法(XRD)を用いた転位密度、結晶子サイズ解析