第3回[九州]半導体産業展(次世代エネルギー展)　出展のご案内

2026.09.15技術情報

このたび当社は、2026年9月30日(水)から10月1日(木)まで、マリンメッセ福岡 A・B館で開催される「第3回[九州]半導体産業展」に出展いたします。
同会場では、「第1回[九州]次世代エネルギー展」も同時開催されます。

本展示では、電池や半導体デバイスの内部構造を非破壊で可視化・解析できる高分解能ナノフォーカスX線CTについてパネルでご紹介します。
このほか、プラズマFIB-SEMやTEMによる半導体デバイスの断面・拡散層観察、X線トポグラフによる結晶性・結晶欠陥の評価、GD-MSによる微量分析など、半導体材料・デバイスに関するさまざまな分析・評価技術をご案内します。

また、同時開催の次世代エネルギー展に関連して、アンモニアの利用を支える材料評価技術もご紹介します。
アンモニア混焼・専焼時の高温腐食環境を再現する試験や、液体アンモニア環境下での材料評価技術をご覧いただく予定です。

半導体・電池、次世代エネルギーなど、幅広い分野の分析・評価に関するご相談を承ります。皆さまのご来場をお待ちしております。

記

<展示会・出展概要>

■日時:2026年9月30日(水)～10月1日(木)10:00～17:00
■会場:マリンメッセ福岡 A・B館
■出展ブース:A館 A1-41　　　　
■出展内容:高分解能X線CT、PFIB-SEM、TEM/STEM、X線トポグラフ、ラマン分光、GD-MS、ICP-MS、HAXPES等による分析事例紹介、
                    高温アンモニアガス腐食試験・液体アンモニア中腐食試験
■公式ホームページ:第3回[九州]半導体産業展　
■会場図面:当社出展ブース位置は下図をご参照ください。