第87回　応用物理学会秋季学術講演会　展示会(JSAP EXPO Autumn 2026)　出展のご案内

このたび当社は9月8日(火)~11日(金)、北海道大学 札幌キャンパスにて開催の第87回応用物理学会秋季学術講演会に併設の展示会に出展いたします。 

今回の展示において、電池や半導体デバイスの内部構造を非破壊で3次元観察が可能なナノフォーカスX線CTを紹介いたします。
また春季に展示しましたプラズマFIB-SEMおよびTEMによる市販のSiC-MOSやGaN HEMTの断面や拡散層観察、半導体デバイスの基板材料であるSi、SiC、GaN等の結晶性、結晶欠陥を実験室レベルで評価解析できるX線トポグラフやそれによるSiC欠陥密度評価をはじめ、酸・アルカリに難溶性のSiCやGaNなど直接微量分析を行うGD-MS等パネルでご紹介いたします。その他、物理分析、化学分析など弊社特徴のある分析解析技術をご紹介しております。

応用物理学会にご参加の際には、是非当社ブースにお立ち寄りください。

記

日　程　：2026年9月8日(火) - 11日(金)　4日間開催

時　間　：9月8日(火)～10日(木)　9:00～18:00  

        　　　9月11日(金)  9:00～13:00

会　場　： 北海道大学 札幌キャンパス(第一体育館・第二体育館)　PB会場 日鉄テクノロジーブース B-74

出展内容： 高分解能X線CT、PFIB-SEM、TEM/STEM、X線トポグラフ、ラマン分光、GD-MS、ICP-MS、HAXPES等による分析事例紹介

公式ホームページ 応用物理学会春季学術講演会展示会　JSAP EXPO Autumn 2026 | 第87回応用物理学会秋季学術講演会