第73回 応用物理学会春季学術講演会・展示会(JSAP EXPO Spring 2026)　出展のご案内

2026.02.26技術情報

このたび当社は、3月15日(日)~18日(水)に東京科学大学 大岡山キャンパス屋内運動場で開催される「第73回 応用物理学会春季学術講演会」に併設の展示会へ出展いたします。

当社ブースでは、プラズマFIB-SEMおよびTEMによる市販SiC-MOSやGaN HEMTの断面・拡散層観察、半導体デバイス基板材料であるSi、SiC、GaN等の結晶性・結晶欠陥を実験室レベルで評価解析可能なX線トポグラフ、およびそれによるSiC欠陥密度評価、さらに酸・アルカリに難溶性のSiCやGaNの直接微量分析を行うGD-MSなどの分析技術をパネル展示にてご紹介いたします。その他、物理分析・化学分析など、当社の特長のある分析解析技術についてもご紹介しております。

応用物理学会にご参加の際には、是非当社ブースへお立ち寄りください。

<応用物理学会春季学術講演会展示会・出展概要>

• 日程:2026年3月15日(日)～18日(水)/4日間
• 時間:
• 3月15日(日)～17日(火) 9:30〜18:00
  3月18日(水) 9:30〜13:00
• 会場:東京科学大学 大岡山キャンパス屋内運動場 P会場 日鉄テクノロジー ブース番号:4-24
• 出展内容:X線トポグラフ、TEM/STEM、PFIB-SEM、ラマン分光、GD-MS、ICP-MS、HAXPES などによる分析事例紹介
• 公式ホームページ 　  第73回応用物理学会春季学術講演会