X線回折法は、物質の構造解析に用いられている一般的な方法です。
その他にも、材料・製品・構造物の残留応力測定に従来から用いられてきています。
しかし、この残留応力測定は試験片形状、測定部位に対応した様々なノウハウが必要です。
当社は、鉄鋼材料を対象にこのノウハウを確立し、その後種々の材料、部材の測定実績を重ねてきています。
残留応力測定のニーズがございましたら、是非ご一報下さいますようお願い申し上げます。
機器名 | 特徴 | 対象、実施例 | 標準サイズ |
---|---|---|---|
PSPC-MSF (Target:Cr) (Target:Cu) |
1mmφ平行ビーム(最小0.3mmφ) 微小部、曲線部、条件設定 |
歯車、歯面、歯底 アモルファス(部分結晶) |
120x250x300mm 0.5x0.5mm以上 5Kg以下 |
<アルミの残留応力に必要な定数と条件>
・結晶構造---FCC(面心立方晶)
・格子定数---4.0494(Å)
・弾性定数---70600MPa
・ポアソン比---0.345
・測定波長---Cr-Kα 2.291(Å)
・回折面---(111)面間隔 1.1690(Å)
・回折角---156.6°(2θ)
・応力定数--- -94.86MPa/deg
※強配向性のため、測定点のうねりあり。
<フェライト、マルテンサイトの残留応力に必要な定数と条件>
・結晶構造---BCC(体心立方晶)
・格子定数---2.8664(Å)
・弾性定数---205940MPa
・ポアソン比---0.28
・測定波長---Cr-Kα 2.291(Å)
・回折面---(211)面間隔 1.1702(Å)
・回折角---156.4°(2θ)
・応力定数--- -318.13MPa/deg
X線源 | 目的 | 特徴 | 対象、実施例 | 標準サイズ |
---|---|---|---|---|
Cu Kα | 物質同定 (組成形態) |
集中法 薄膜法 |
多結晶 200Å以上 |
10×10mm板、塊、粉 厚さ4.9mm以下 |
構造解析 | 結晶系、面指数、格子定数の決定 黒鉛の格子定数測定(学振法に準拠) |
超電導材、化合物 炭素繊維 |
10×10mm板 繊維 |
|
結晶子径測定 | ε=λ/β1×cosθ 2重線分離、2重線と光学系拡がり補正 |
薄膜Al、Fe(2000Å) 炭素(メソフェーズ) |
10×10mm板 板、粉(1g) |
|
不均一歪測定 (Hallプロット法) |
(βcosθ/λ)=(2ηsinθ/λ)+(1/ε) | 炭素鋼、SUS | 10×10mm板 10×10mm板 |
|
結晶化度測定 | 金属系(検量線)、格子定数変化法 X=〔1-(ln/lp)〕×100 X=〔1-(ΣLa/Σia100)〕×100 |
炭素(メソフェーズ) アモルファス W5Si3(3000Å) |
粉(1g) 10×10mm板 |
|
組成定量 半定量 |
吸収補正、侵入深さ、膜厚:1~30μm 多元素の定量(検量線) |
FeO、Fe2O3、Fe3O4、ロール α、β、γ-FeOOH |
粉(1g) 10×10mm板 |
|
残留γの定量 | Cr Kα併用 α-(211)とγ-(220)面の強度 (加工誘起マルテンサイトの定量) Mo Kα併用 組み合わせ ![]() |
微小部 |
1×1mm板 |
|
炭素鋼 | 25×25mm板 | |||
Mo Kα | 集合組織 (多結晶) |
正極点図(シュルツ反射法) 標準試料との強度比、α β回転 板面に平行な結晶面方位の解析 |
α、γ-Fe、Ni Al、Ti、Cu |
25×25mm板 |
配向性測定 (多結晶) |
軸密度(h、k、L)測定 | 薄膜Al、Fe(2000Å) Mo2Si(2500Å) |
25×25mm板 |