各種粉体材料について粒子径、比表面積、細孔分布、ゼータ電位や等電点などの物性値を測定し、表面特性・分散・凝集性などの評価をします。
粉体粒子の比表面積とその細孔分布・細孔容積を測定できます。
測定対象: | 各種粉体、触媒、活性炭、シリカゲル、ゼオライト、アルミナ、電極材、多孔質ガラス等 |
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粉体粒子の見掛け密度を測定できます。
測定対象: | セラミックス、金属等の粉体多孔体 |
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粒度分布測定装置
以下の3つの測定方法より粉体粒子の粒子径とその粒度分布を測定できます。
測定方法: | 測定範囲 |
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標準篩法(JISZ8801他) | 20μm~100mm |
レーザー回折散乱法 | 10nm~3mm |
動的光散乱法 | 3nm~5μm |
自動形態・ラマン分光分析装置 装置名:モフォロギ4-ID
(スペクトリス株式会社製)
1粒子毎の顕微鏡観察+画像解析とラマン分光分析により、形状や粒度分布等の形態情報と化学情報を分析することで、微小粒子(0.5~1300μm)の素性を解明可能です。
粒子形態 | ラマン分析 | |
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測定試料の状態 | 固体(粉体)・液体 |
固体(粉体) |
試料量 | 固体1~19mm3 |
1~19mm3 |
観察粒径範囲 | 0.5~1300μm |
0.5~1300μm |
分析粒子数 | ~数十万個 |
~数百個 |
レーザ波長 波数範囲 |
― |
785nm |
一度の測定(約30分)で得られる情報;粒径分布、粒子周囲長、円形度、アスペクト比、輝度等
コロイド粒子の分散・凝集性、相互作用、表面改質の指標となるゼータ電位、粒子径およびpHタイトレーションによる等電点測定が可能です。また、非導電性の平板表面のゼータ電位測定も可能です。
水系試料: | 無機コロイド、ラテックス、エマルジョン、 金属コロイド、界面活性剤、食品等 |
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有機系試料: | トナー、樹脂エマルジョン、塗料、顔料等 |
平板試料: | ガラス、シリコンウェハー、フィルム、陶器等 |
ガス吸着量測定装置外観
ゼータ電位・粒子径測定装置