X線残留応力測定装置

概要

X線回折法を利用して、材料表面の残留応力を非破壊で分析する手法です。

原理

  • X線残留応力測定は、材料を構成する結晶をミクロなひずみゲージとして用いる事で、応力を評価します。
  • 材料に応力が負荷されると、材料中の結晶の格子面間隔(d)が伸縮します。格子面間隔の変化⊿dは、X線回折ピークの回折角(2θ)のシフト量から読み取ることが出来ます。⊿dから求めたひずみεと材料固有の弾性定数を元にして、応力σを求めるのがX線残留応力測定の基本原理です。

    X線残留応力測定装置の外観

X線残留応力測定装置の外観

X線残留応力測定装置の外観

  • 上記の基本原理を元にして、様々なX線応力解析手法が提案・実用されており、例えばsin2Ψ法、cosα法、2D法などがあります。

装置仕様

  • 用途に応じて使い分けを行っております。幅広い測定対象に対応可能です。
測定内容 使用装置
・微小部測定
・マッピング
・その他特殊測定
(株)リガク
PSPC-RSF
AutoMATE
AutoMATE2
SmartLab
・大型試料、重量物測定 (株)リガク
PSPC-MSF
・現場測定
・大型構造物測定
パルステック工業(株)
μ-X360
X線残留応力測定装置

X線残留応力測定装置

(株)リガク製 AutoMATE2

評価対象

  • 材料:鉄鋼材料全般、非鉄金属(Cu、Al、Ti、Niなど)、セラミックスなど
  • 形状:板、パイプ、棒線、ばね、ギアなど

※測定試料の材質・形状・サイズに応じて、装置や手法の使い分けを行いますので、事前にご相談ください。

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