真空紫外-1光子イオン化-飛行時間型質量分析計 (VUV-SPI-TOFMS)

VUV-SPI-TOFMSの特徴

VUV-SPI-TOFMS：真空紫外-1光子イオン化-飛行時間型質量分析計

1. 有機分子を壊すこと（フラグメント）なく検出することが可能
2. 多成分同時測定が可能
3. リアルタイム・オンサイト分析が可能　※最小測定間隔：1秒
4. 可搬型の為、車載することで大気等の移動測定が可能
5. 検出感度が高い　※定量下限：約2ppb～（分子種による）
6. 測定対象は気体、固体・液体からの揮発成分（R.T.～100℃）

VUV-SPI-TOFMS装置の測定原理

1. 測定装置概要　サンプルガスをピンホールを通してイオン化部（真空中）に連続的に導入し、真空紫外光を照射、ガス成分をイオン化して質量分析部により検出する。
2. 真空紫外光発生機構　Nd3+:YAGレーザーの第3高調波(355 nm)をXeガスに照射、4波混合により真空紫外光(118nm）をパルス状に発生させ、サンプルガスに照射する。
3. イオン化原理　上記2-2で発生させた真空紫外光を真空槽内でサンプルガスに照射することにより分子をイオン化、イオン化された分子は飛行時間型質量分析装置（TOFMS）に導入され、質量スペクトルとして検出される。

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  装置概要・測定原理