軽量(1.3kg)のNITON携帯型(ハンドヘルド型)蛍光X線分析装置により、現場やプラント等で試験片を切り取ること無く、そのままの状態で迅速に材料を判別したり、表面付着物等の簡易分析を行うことができます。測定対象を切り取って実験室に持ち帰れない場合、設備の稼動中に現物を直接測定したい場合、多数のサンプル(測定点)を効率的に測定したい場合に威力を発揮します。
測定対象表面に一次X線を照射し、表面に存在する元素が放射する特性X線(二次X線)の波長(エネルギー)と強度を検出・分析することによって、対象物の組成を分析します。
検出器には卓上型蛍光X線分析装置で用いられている高感度のSDD(Silicon Drift Detector)を用いているので、ヘリウムガスを装置に送り込み、測定面と検出器間の空気層による蛍光X線の減衰を防ぐことで、Mg、Al、Si、S、Cl、Ca等の軽元素の測定も可能です。セラミックス、コンクリート等の分析もできます。
など
定量分析を行う場合、新たに検量線が必要となる場合があります。