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物理分析（HAXPES）に関するテクニカルレポートを公開しました。

RSM-2205　HAXPESを用いためっき層の六価クロムの検出　～RoHS指令規制物質～

めっき中の六価クロムの有無を調べるために、高エネルギーX線を用いた光電子分光法（HAXPES）を用い、有色クロメート処理部品を試料として調査した事例です。従来困難であったイオンスパッタリングを併用しながらのめっき全体の六価クロム分析が可能であることを示します。